Analisando Retornos de Escala usando DEA: um Estudo em Instituições de Ensino Tecnológico no Brasil
DOI:
https://doi.org/10.15675/gepros.v0i4.176Resumo
Neste artigo, realiza-se uma aplicação de Análise de Envoltória de Dados DEA para avaliar a existência de retornos constantes ou variáveis de escala, no desempenho de instituições de ensino tecnológico no Brasil, com ênfase no ensino médio. São testados modelos CCR, BCC e de Região de Garantia para um conjunto de 23 Centros Federais de Educação Tecnológica do Brasil (CEFETs). A DEA é usada para testar a existência de retornos constantes (modelo CCR) ou variáveis (modelo BCC) de escala, adotando como produtos as matrículas, a quantidade de egressos e o resultado na prova do Exame Nacional do Ensino Médio (ENEM) e como insumos, orçamento, corpo docente e titulação do corpo docente. Os principais resultados sugerem haver retornos variáveis de escala para orçamento e corpo docente, mas retorno constante para titulação. As implicações teóricas dos achados sugerem que uma análise de cada insumo deve ser realizada antes de modelar o insumo virtual e escolher o modelo de DEA. Palavras-chave: Avaliação do Desempenho; DEA; Análise de Envoltória de Dados; Educação; Retornos de Escala.Downloads
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